Test na Rozlišovacia schopnosť mikroskopu

Otázka 1: Vysoké zväčšenie obrazu v mikroskope automaticky zaručuje, že budeme schopní pozorovať viac jemných detailov.

A. Áno

B. Nie

Vysvetlenie: Samotné vysoké zväčšenie nezaručuje, že uvidíme viac detailov. Ak je obraz len zväčšenou rozmazanou škvrnou, zväčšenie neposkytuje žiadne nové informácie. Kritickým parametrom, ktorý určuje, aké jemné detaily môžeme pod mikroskopom pozorovať, je rozlišovacia schopnosť.

Otázka 2: Čo presne vyjadruje rozlišovacia schopnosť mikroskopu?

A. Schopnosť mikroskopu zväčšiť obraz objektu tisíckrát alebo viac.

B. Najmenšia vzdialenosť medzi dvoma bodmi, pri ktorej ich mikroskop dokáže rozlíšiť ako samostatné entity.

C. Množstvo svetla, ktoré objektív mikroskopu dokáže zachytiť zo vzorky.

D. Číselná hodnota udávajúca index lomu prostredia medzi objektívom a vzorkou.

Vysvetlenie: Rozlišovacia schopnosť (alebo rozlíšenie) je definovaná ako schopnosť mikroskopu rozlíšiť dva blízko ležiace body alebo štruktúry ako samostatné entity. Je to najmenšia vzdialenosť medzi dvoma bodmi, pri ktorej ich ešte dokážeme vidieť oddelene.

Otázka 3: Svetelný mikroskop má svoje limity dané vlnovou dĺžkou svetla.

A. Áno

B. Nie

Vysvetlenie: Študijný materiál explicitne uvádza: „Svetelný mikroskop má svoje limity dané vlnovou dĺžkou svetla.“ To je hlavný dôvod, prečo bola vyvinutá elektrónová mikroskopia, ktorá využíva elektróny s oveľa kratšou vlnovou dĺžkou na prekonanie týchto obmedzení.

Otázka 4: Skenovací elektrónový mikroskop (SEM) je primárne určený na štúdium vnútornej štruktúry buniek a organel s najvyšším možným rozlíšením.

A. Áno

B. Nie

Vysvetlenie: Skenovací elektrónový mikroskop (SEM) vytvára trojrozmerný obraz povrchu vzorky a poskytuje vynikajúce zobrazenie topografie a morfológie povrchu. Na štúdium vnútornej štruktúry s najvyšším rozlíšením (až do 0,1 nm) je určený transmisný elektrónový mikroskop (TEM).

Otázka 5: Ktoré tvrdenie najlepšie charakterizuje Transmisný elektrónový mikroskop (TEM) podľa poskytnutých študijných materiálov?

A. Vytvára trojrozmerný obraz povrchu vzorky skenovaním elektrónovým lúčom.

B. Elektrónový lúč prechádza cez ultratenkú vzorku a umožňuje študovať vnútorné detaily buniek.

C. Jeho hlavnou funkciou je detekcia sekundárnych elektrónov emitovaných z povrchu vzorky.

D. Dosahuje rozlíšenie rádovo 1 nm, čo je vhodné na zobrazenie topografie povrchu.

Vysvetlenie: Podľa študijných materiálov, Transmisný elektrónový mikroskop (TEM) 'Vytvára dvojrozmerný obraz vnútornej štruktúry vzorky. Elektrónový lúč prechádza cez ultratenkú vzorku a elektróny, ktoré prejdú, sú detekované.' Taktiež 'umožňuje študovať vnútorné detaily buniek, organel a dokonca aj jednotlivých molekúl.' Ostatné možnosti opisujú vlastnosti SEM alebo sú nepravdivé vzhľadom na TEM.