Test na Základy digitální elektroniky a pamětí
Základy Digitální Elektroniky a Pamětí: SEO Průvodce pro Studenty
Test: Měření a učební materiály, Digitální logika - integrované obvody, Digitální logika - průmyslové aplikace, Digitální logika - základy číselných systémů, Digitální logika - základy a technika, Digitální logika - systémové přístupy, Digitální logika - kombinační funkce, Digitální logika - minimalizace a nástroje, Digitální logika - návrh a realizace, Digitální logika - multiplexory a demultiplexory, Digitální logika - dekodéry a kódování, Paměti polovodičové, Paměti nepersistentní a flash, Digitální integrované obvody a návrh, TTL logika a bipolární obvody, CMOS logika a invertory, Fyzika a pouzdření integrovaných obvodů, Digitální CMOS obvody a manipulace, Digitální logika - obvody a vstupy/výstupy, Rozhraní a přizpůsobení signálů – úrovňové převody, Rozhraní a přizpůsobení signálů – CMOS/TTL rozhraní, Rozhraní a přizpůsobení signálů – signálová úprava, Návrh a praktika zařízení – digitální návrhy, Návrh a praktika zařízení – výkonová řízení, Digitální logika - klopné obvody, EMC a rušení - základy a normy, EMC a rušení - zdroje a typy EMI, EMC a rušení - potlačení a ochranná opatření, Arduino, Programování mikrokontrolérů
20 otázek
Otázka 1: Indukované proudy vyvolané nukleárním elektromagnetickým impulsem (NEMP) v pláštích letadel nebo dlouhých pozemních vedeních dosahují maximálně desítek ampérů.
A. Ano
B. Ne
Vysvětlení: Studijní materiály uvádějí, že indukvané proudy způsobené NEMP, ať již v pláštích letadel či dlouhých pozemních vedeních, mohou dosáhnout i stovky, ba dokonce i několika tisíc ampérů, nikoliv maximálně desítek.
Otázka 2: Jaký je základní mechanismus vzniku rušivých signálů v digitálních systémech?
A. Rušivé signály vznikají všude tam, kde dochází k rychlým změnám napětí nebo proudu.
B. Rušivé signály vznikají primárně z pomalých a stabilních elektrických polí.
C. Rušení je způsobeno výhradně tepelným šumem v rezistorech.
D. Vznik rušení je spojen pouze s přítomností atmosférických poruch.
Vysvětlení: Podle studijních materiálů vznikají rušivé signály všude tam, kde dochází k rychlým změnám napětí nebo proudu. Ostatní možnosti popisují specifické typy nebo nesprávné mechanismy.
Otázka 3: Jsou digitální zařízení zcela imunní vůči rušení způsobenému intenzivními zdroji rušení?
A. Ano
B. Ne
Vysvětlení: Ačkoliv jsou zařízení digitální techniky méně citlivá na rušení, intenzivní zdroje rušení je mohou rušit tím, že silná jednorázová porucha změní hodnotu některého přenášeného bitu.
Otázka 4: Pro snížení přeneseného rušivého napětí v důsledku kapacitní vazby v číslicových obvodech je doporučeno zajistit nízkoohmové impedanční poměry v ovlivňovaném obvodu. Jaký je hlavní důvod pro toto doporučení?
A. Zvětšuje se tím vazební kapacita C23, což omezuje rušivé napětí.
B. Minimalizuje se tím hodnota odporu R23, která přímo snižuje maximální přenesené rušivé napětí.
C. Omezuje se tím rychlost časových změn signálů v obvodu.
D. Pomáhá to vyvážit kapacitní můstek, což snižuje induktivní vazbu.
Vysvětlení: Doporučení zajistit nízkoohmové impedanční poměry v ovlivňovaném obvodu znamená udržovat hodnotu R23 (výsledný odpor mezi vodiči 3 a 2) na co nejmenší velikosti. Podle vztahu (56), U_rmax ≈ R23 * C13 * (∆u1/∆t), je maximální přenesené rušivé napětí U_rmax přímo úměrné odporu R23. Jeho snížením se tedy přímo snižuje i U_rmax.
Otázka 5: Absorpční útlum kovové přepážky roste s druhou odmocninou kmitočtu na dB stupnici.
A. Ano
B. Ne
Vysvětlení: Podle studijních materiálů platí, že 'Absorpční útlum tedy roste s druhou odmocninou kmitočtu na dB stupnici'.