Test na Analytické techniky pro farmaceutické pevné látky

Otázka 1: Byla rentgenová difrakce prováděna na Marsu?

A. Ano

B. Ne

Vysvětlení: Studijní materiály uvádějí 'Difrakce na Marsu 2010', což potvrzuje, že rentgenová difrakce byla na Marsu prováděna.

Otázka 2: Jaký vliv má tvar krystalů na rentgenovou difrakci, podle obrázku 'Vliv tvaru krystalů na difrakci aspartamu'?

A. Tvar krystalů nemá žádný vliv na difrakční záznam.

B. Různé tvary krystalů vedou k odlišným difrakčním vzorům.

C. Tvar krystalů ovlivňuje pouze intenzitu píků, nikoli jejich pozice.

D. Tvar krystalů má za následek pouze rozšíření píků, nikoli změnu jejich tvaru.

Vysvětlení: Obrázek nazvaný 'Vliv tvaru krystalů na difrakci aspartamu' vizuálně demonstruje, že různé tvary krystalů aspartamu (např. jehlicovitý, destičkovitý, tyčinkovitý) vykazují rozdílné difrakční vzory, což potvrzuje, že tvar krystalů má vliv na výsledný difrakční záznam.

Otázka 3: XRF spektroskopie umožňuje jak kvalitativní, tak i kvantitativní elementární analýzu vzorků.

A. Ano

B. Ne

Vysvětlení: Princip XRF spektroskopie zahrnuje elementární analýzu, která poskytuje informace o kvalitě i kvantitě prvků ve vzorku.

Otázka 4: Které z následujících detektorů jsou využívány v rentgenové spektroskopii XRF podle studijních materiálů?

A. Ionizační komora pro vlnově disperzní XRF

B. Fotodiody (PIN, SDD) pro energiově disperzní XRF

C. Geiger-Müllerův čítač pro vlnově disperzní XRF

D. Scintilační detektor pro energiově disperzní XRF

Vysvětlení: Studijní materiály uvádějí, že pro vlnově disperzní WD-XRF se používá ionizační komora. Pro energiově disperzní ED-XRF jsou pak uvedeny fotodiody, konkrétně PIN a SDD (silicon drift). Ostatní možnosti nejsou v materiálech zmíněny jako detektory pro XRF.

Otázka 5: V rámci infračervené spektroskopie je oblast střední infračervené (MIR) definována vlnočty v rozmezí 4000 až 10 cm⁻¹.

A. Ano

B. Ne

Vysvětlení: Oblast střední infračervené spektroskopie (MIR) je definována vlnočty v rozmezí 4000 až 200 cm⁻¹, nikoliv až 10 cm⁻¹.